https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/501365
標題: | Characterization of a Pseudo-Random Testing Technique for Analog and Mixed-Signal Built-in-Self-Test. | 作者: | Tofte, Jan Arild Ong, Chee-Kian Huang, Jiun-Lang Cheng, Kwang-Ting (Tim) JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 2000 | 起(迄)頁: | 237-246 | 來源出版物: | 18th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2000), 30 April - 4 May 2000, Montreal, Canada | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/501365 | DOI: | 10.1109/VTEST.2000.843851 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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