https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/501537
標題: | Depth-resolved confocal micro-Raman spectroscopy for characterizing GaN-based light emitting diode structures | 作者: | Chen, W.-L. Lee, Y.-Y. Chang, C.-Y. Huang, H.-M. Lu, T.-C. Chang, Y.-M. |
公開日期: | 2013 | 出版社: | American Institute of Physics | 卷: | 84 | 期: | 11 | 起(迄)頁: | 113108-1 - 113108-5 | 來源出版物: | Review of Scientific Instruments | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/501537 | ISSN: | 00346748 | DOI: | 10.1063/1.4829627 |
顯示於: | 凝態科學研究中心 |
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