https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/505964
標題: | Very-Low-Voltage Testing of Amorphous Silicon TFT Circuits. | 作者: | Shen, Shiue-Tsung Liu, Wei-Hsiao Ma, En-Hua Li, James Chien-Mo I-CHUN CHENG CHIEN-MO LI |
公開日期: | 2009 | 起(迄)頁: | 75-80 | 來源出版物: | Proceedings of the Eighteentgh Asian Test Symposium, ATS 2009, 23-26 November 2009, Taichung, Taiwan | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/505964 | DOI: | 10.1109/ATS.2009.68 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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