https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/559393
標題: | Dependence of carrier escape lifetimes on quantum barrier thickness in InGaN/GaN multiple quantum well photodetectors | 作者: | Chow, Y.C. Lee, C. Wong, M.S. Wu, Y.-R. Nakamura, S. Denbaars, S.P. Bowers, J.E. Speck, J.S. YUH-RENN WU |
公開日期: | 2020 | 卷: | 28 | 期: | 16 | 起(迄)頁: | 2796-23805 | 來源出版物: | Optics Express | URI: | https://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-85089132761&partnerID=40&md5=c4ca79cc97f4ee4fc36b7b96b37e35c8 https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/559393 |
DOI: | 10.1364/OE.399924 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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