https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/601590
標題: | Health Risk Assessment of Photoresists Used in an Optoelectronic Semiconductor Factory | 作者: | Huang S.-Z. KUEN-YUH WU |
公開日期: | 2019 | 出版社: | Blackwell Publishing Inc. | 卷: | 39 | 期: | 12 | 起(迄)頁: | 2625-2639 | 來源出版物: | Risk Analysis | URI: | https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-85068224998&doi=10.1111%2frisa.13366&partnerID=40&md5=d20b29e44779b48bdafaf64de8627556 https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/601590 |
ISSN: | 0272-4332 | DOI: | 10.1111/risa.13366 |
顯示於: | 食品安全與健康研究所 |
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