https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/63716
標題: | Electromechanical coupling of CMOS-MEMS testkey for extracting material properties | 作者: | Chuang, W.-C. Lee, H.-L. Hu, Y.-C. Shih, W.-P. Chang, P.-Z. |
公開日期: | 2010 | 起(迄)頁: | - | 來源出版物: | The First IFToMM Asian Conference on Mechanism and Machine Science (Asian-MMS 2010), Taipei, Taiwan | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/257123 |
顯示於: | 機械工程學系 |
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