https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/76103
標題: | Electron microscopy investigations of V defects in multiple InGaN/GaN quantum wells and InGaN quantum dots | 作者: | Yang, J.R. Li, W.C. Tsai, H.L. Hsu, J.T. Shiojiri, M. YangJR |
公開日期: | 2010 | 起(迄)頁: | 275-281 | 來源出版物: | Journal of Microscopy | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/243919 | DOI: | 10.1111/j.1365-2818.2009.03242.x |
顯示於: | 材料科學與工程學系 |
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