https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/82266
標題: | Integrated yield-mining solution with enhanced electrical test data correlation | 作者: | Fan, Chih-Min Guo, Ruey-Shan Chen, Argon Hon, Amos Wei, John King, Mingchu |
公開日期: | 十月-2003 | 來源出版物: | The Ninth International Symposium on Semiconductor Manufacturing, 2003 | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/200704190855940 | 其他識別: | 1523-553X | DOI: | 10.1109/ISSM.2003.1243335 |
顯示於: | 工業工程學研究所 |
檔案 | 描述 | 大小 | 格式 | |
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