公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
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1986 | Radiation Effects on the Oxide Properties of Silicon MOS Capacitor | 胡振國 ; Lee, G. S.; Jeng, M. J.; 王維新; 李嗣涔 ; Hwu, Jenn-Gwo ; Wang, Way-Seen; Lee, Si-Chen | Electronic Devices and Materials Symposium | |||
1994 | Rapid Thermal Post-Metallization Annealing Effect on the Reliability of Thin Gate Oxides | 胡振國 ; Jeng, M. J.; Lin, H. S. | 1 | 1 |