公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
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2000 | Testing for tunneling opens. | Li, Chien-Mo James; McCluskey, Edward J.; CHIEN-MO LI | Proceedings IEEE International Test Conference 2000, Atlantic City, NJ, USA, October 2000 | 0 | 0 | |
2009 | 可撓式薄膜電晶體數位電路靜態時序分析 | 許肇軒; Hsu, Chao-Hsuan |