公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
2000 | Age-based double EWMA controller and its application to a CMP process | Chen, A.; Guo, R.-S.; ARGON CHEN | Run-to-Run Control in Semiconductor Manufacturing | | | |
2000 | Age-based double EWMA controller and its application to a CMP process | Chen, A.; Guo, R.-S. | Run-to-Run Control in Semiconductor Manufacturing | 2 | | |
2002 | Aggression and memory for individuals in golden hamsters: functional neuroanatomy and role of protein synthesis | Lai, W.S.; Chen, A.; Johnston, R.E | Hormones and Behavior | | | |
2015 | Application of Unmanned Aerial Vehicle on seismic risk assessment and emergency response | Shen, Y.-H.; Huang, Y.-N.; Chen, A.; YIN-NAN HUANG | Journal of the Chinese Institute of Civil and Hydraulic Engineering | | | |
2016 | Blood vessel extraction from OCT data by short-time RPCA | Lee, P.-H.; Chan, C.-C.; Huang, S.-L.; Chen, A.; HOMER H. CHEN | Proceedings - International Conference on Image Processing, ICIP | | | |
2009 | The conservation network of horseshoe crab Tachypleus tridentatus in Taiwan | Chen, C.-P.; Hsieh, H.-L.; Chen, A.; Yeh, H.-Y.; Lin, P.-F.; Wang, W.; ARGON CHEN | Biology and Conservation of Horseshoe Crabs | | | |
2005 | Crustal-scale seismic profiles across Taiwan and the western Philippine Sea | McIntosh, K.; Nakamura, Y.; Wang, T.-K.; Shih, R.-C.; Chen, A.; CHAR-SHINE LIU | Tectonophysics | 132 | 129 | |
2001 | Data mining and fault diagnosis based on wafer acceptance test data and in-line manufacturing data | Fan, C.-M.; Guo, R.-S.; Chen, A.; Hsu, K.-C.; ARGON CHEN ; RUEY-SHAN GUO | IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing Conference, Proceedings | 12 | 0 | |
2002 | Design and performance analysis ofthe exponentially weighted moving average mean estimate for processes subject to random step changes | Chen, A.; Elsayed, E.A.; ARGON CHEN | Technometrics | | | |
2000 | An effective SPC approach to monitoring semiconductor manufacturing processes with multiple variation sources | Chen, A.; Guo, R.-S. ; Yeh, P.-J. | IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing Conference, Proceedings | 6 | | |
2015 | Efficient Splitting Simulation for Blackout Analysis | Wang, S.-P.; Chen, A.; Liu, C.-W.; Chen, C.-H.; Shortle, J.; CHIH-WEN LIU ; ARGON CHEN | IEEE Transactions on Power Systems | 22 | 21 | |
2018 | Equipment Deterioration Modeling and Causes Diagnosis in Semiconductor Manufacturing | Rostami, H.; Blue, J.; Chen, A.; ARGON CHEN ; JAKEY BLUE | IEEE International Conference on Automation Science and Engineering | 0 | 0 | |
2011 | Evidence for the Suppressed Decay B- -> DK-, D -> K+pi- | Horii, Y.; Trabelsi, K.; Yamamoto, H.; Adachi, I.; Aihara, H.; Arinstein, K.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Balagura, V.; Barberio, E.; Belous, K.; Bhuyan, B.; Bischofberger, M.; Bozek, A.; Bra?ko, M.; Browder, T.E.; Chang, M.-C.; Chang, P.; Chen, A.; Chen, P.; Cheon, B.G.; Chiang, C.-C.; Cho, I.-S.; Cho, K.; Choi, Y.; Doleal, Z.; Eidelman, S.; Feindt, M.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Golob, B.; Ha, H.; Haba, J.; Hayasaka, K.; Hoshi, Y.; Hou, W.-S.; Hsiung, Y.B.; Hyun, H.J.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwabuchi, M.; Iwasaki, Y.; Iwashita, T.; Joshi, N.J.; Julius, T.; Kang, J.H.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, H.J.; Kim, H.O.; Kim, M.J.; Kim, Y.J.; Kinoshita, K.; Ko, B.R.; Kobayashi, N.; Korpar, S.; Krian, P.; Kuhr, T.; Kumar, R.; Kwon, Y.-J.; Lee, M.J.; Lee, S.-H.; Li, J.; Liu, C.; Liventsev, D.; Louvot, R.; Matyja, A.; McOnie, S.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Miyazaki, Y.; Mohanty, G.B.; Moll, A.; Mori, T.; Muramatsu, N.; Nakano, E.; Nakazawa, H.; Natkaniec, Z.; Neubauer, S.; Nishida, S.; Nitoh, O.; Ohshima, T.; Okuno, S.; Onuki, Y.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Park, C.W.; Park, H.K.; Pestotnik, R.; Petri?, M.; Piilonen, L.E.; Poluektov, A.; Prim, M.; Prothmann, K.; R?hrken, M.; Ryu, S.; Sahoo, H.; Sakai, Y.; Schneider, O.; Schwanda, C.; Schwartz, A.J.; Senyo, K.; Seon, O.; Sevior, M.E.; Shapkin, M.; Shebalin, V.; Shen, C.P.; Shibata, T.-A.; Shiu, J.-G.; Simon, F.; Smerkol, P.; Sohn, Y.-S.; Solovieva, E.; Stani?, S.; Stari?, M.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Suzuki, S.; Tanaka, S.; Teramoto, Y.; Uchida, M.; Uehara, S.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Usov, Y.; Varner, G.; Vinokurova, A.; Vossen, A.; Wang, C.H.; Wang, P.; Watanabe, M.; Watanabe, Y.; Wicht, J.; Won, E.; Yabsley, B.D.; Yamashita, Y.; Zander, D.; Zhang, Z.P.; Zhulanov, V.; PAO-TI CHANG ; YEE HSIUNG ; PISIN CHEN ; WEI-SHU HOU | Physical Review Letters | 55 | 43 | |
2010 | First measurement of inclusive B→X <inf>s</inf> η decays | Nishimura, K.; Browder, T.E.; Adachi, I.; Aihara, H.; Arinstein, K.; Aushev, T.; Bakich, A.M.; Balagura, V.; Barberio, E.; Belous, K.; Bhardwaj, V.; Sahoo, H.; Sakai, Y.; Schneider, O.; Schwanda, C.; Schwartz, A.J.; Senyo, K.; Seon, O.; Sevior, M.E.; Shapkin, M.; Shen, C.P.; Bischofberger, M.; Shiu, J.-G.; Simon, F.; Smerkol, P.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stari?, M.; Sumiyoshi, T.; Suzuki, S.; Teramoto, Y.; Trabelsi, K.; Bondar, A.; Uehara, S.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Varner, G.; Varvell, K.E.; Vervink, K.; Wang, C.H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Bozek, A.; Watanabe, Y.; Wicht, J.; Williams, K.M.; Won, E.; Yamashita, Y.; Yamauchi, M.; Zhang, C.C.; Zhang, Z.P.; Zhou, P.; Zhulanov, V.; Bra?ko, M.; Zivko, T.; Zupanc, A.; PISIN CHEN ; WEI-SHU HOU ; KAI-FENG CHEN ; YEE HSIUNG ; Chang, M.-C.; Chao, Y.; Chen, A.; Chen, K.-F.; Chen, P.; Cheon, B.G.; Chiang, C.-C.; Cho, I.-S.; Choi, Y.; Dalseno, J.; Danilov, M.; Dolex?al, Z.; Drutskoy, A.; Eidelman, S.; Gabyshev, N.; Golob, B.; Ha, H.; Haba, J.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Horii, Y.; Hoshi, Y.; Hou, W.-S.; Hyun, H.J.; Iijima, T.; Inami, K.; Itoh, R.; Iwabuchi, M.; Iwasaki, Y.; Joshi, N.J.; Julius, T.; Kang, J.H.; Kapusta, P.; Kawai, H.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, H.J.; Kim, H.O.; Kim, M.J.; Kim, Y.J.; Kinoshita, K.; Ko, B.R.; Kody?, P.; Korpar, S.; Krix?an, P.; Kumita, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Kyeong, S.-H.; Lange, J.S.; Lee, M.J.; Lee, S.-H.; Li, J.; Liu, C.; Liu, Y.; Liventsev, D.; Louvot, R.; Matyja, A.; McOnie, S.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Miyazaki, Y.; Mohanty, G.B.; Mori, T.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nakazawa, H.; Natkaniec, Z.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Ohshima, T.; Olsen, S.L.; Ostrowicz, W.; Pakhlova, G.; Park, C.W.; Park, H.; Park, H.K.; Park, K.S.; Pestotnik, R.; Petri?, M.; Piilonen, L.E.; R?hrken, M.; Ryu, S. | Physical Review Letters | 12 | 8 | |
2011 | First Observation of Radiative B^0 -> \\phi K^0 \\gamma Decays and Measurements of Their Time-Dependent CP Violation | YEE HSIUNG ; Browder, T.E.; Adachi, I.; Asner, D.M.; Aulchenko, V.; Bakich, A.M.; Barberio, E.; Belous, K.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bondar, A.; Bozek, A.; Bra?ko, M.; Brovchenko, O.; Chen, A.; Chen, P.; Cheon, B.G.; Cho, K.; Choi, Y.; Dalseno, J.; Doleal, Z.; Dr?sal, Z.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J.E.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Haba, J.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Horii, Y.; Hoshi, Y.; Hou, W.-S.; Hsiung, Y.B.; Hyun, H.J.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwabuchi, M.; Iwasaki, Y.; Iwashita, T.; Joshi, N.J.; Julius, T.; Kang, J.H.; Kawasaki, T.; Kiesling, C.; Kim, H.J.; Kim, H.O.; Kim, J.B.; Kim, J.H.; Kim, K.T.; Kim, M.J.; Kim, S.K.; Kim, Y.J.; Kinoshita, K.; Ko, B.R.; Kobayashi, N.; Koblitz, S.; Kody, P.; Korpar, S.; Krian, P.; Kuhr, T.; Kumar, R.; Kumita, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lange, J.S.; Lee, M.J.; Lee, S.-H.; Li, J.; Li, Y.; Libby, J.; Lim, C.-L.; Liu, Z.Q.; Liventsev, D.; Louvot, R.; Matvienko, D.; McOnie, S.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Miyazaki, Y.; Mizuk, R.; Mohanty, G.B.; Mori, T.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Ng, C.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Nitoh, O.; Nozaki, T.; Ohshima, T.; Okuno, S.; Olsen, S.L.; Onuki, Y.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Park, C.W.; Park, H.K.; Peng, T.; Pestotnik, R.; Petri?, M.; Piilonen, L.E.; Prim, M.; R?hrken, M.; Ryu, S.; Sakai, K.; Sakai, Y.; Sanuki, T.; Schneider, O.; Schwanda, C.; Schwartz, A.J.; Senyo, K.; Seon, O.; Sevior, M.E.; Shapkin, M.; Shebalin, V.; Shibata, T.-A.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Simon, F.; Smerkol, P.; Sohn, Y.-S.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stani?, S.; Stari?, M.; Sumihama, M.; Sumisawa, K.; Sumiyoshi, T.; Suzuki, S.; Tatishvili, G.; Teramoto, Y.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Ushiroda, Y.; Vahsen, S.E.; Varner, G.; Vinokurova, A.; Watanabe, M.; Watanabe, Y.; Williams, K.M.; Won, E.; Yabsley, B.D.; Yamashita, Y.; Yuan, C.Z.; Yusa, Y.; Zhang, C.C.; Zhang, Z.P.; Zhilich, V.; Zhou, P.; Zhulanov, V.; PISIN CHEN ; WEI-SHU HOU | Physical Review | 16 | 12 | |
2016 | Image-based approach for road profile analyses | Han, J.-Y.; Chen, A.; Lin, Y.-T.; JEN-YU HAN | Journal of Surveying Engineering | | | |
2017 | Is foveated rendering perceivable in virtual reality? Exploring the efficiency and consistency of quality assessment methods | Hsu, C.-F.; Chen, A.; Hsu, C.-H.; Huang, C.-Y.; Lei, C.-L.; Chen, K.-T.; CHIN-LAUNG LEI | MM 2017 - Proceedings of the 2017 ACM Multimedia Conference | | | |
2010 | Measurement of CP violating asymmetries in $B^0 -> K^+K^- K^0_S$ decays with a time-dependent Dalitz approach | Nakahama, Y.; Sumisawa, K.; Aihara, H.; Arinstein, K.; Aushev, T.; Aziz, T.; Bakich, A.M.; Balagura, V.; Belous, K.; Bhardwaj, V.; Bischofberger, M.; Bondar, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bra?ko, M.; Browder, T.E.; Chang, P.; Chao, Y.; Chen, A.; Chen, P.; Cheon, B.G.; Chiang, C.-C.; Cho, I.-S.; Choi, Y.; Dalseno, J.; Das, A.; Dole?al, Z.; Dr?sal, Z.; Drutskoy, A.; Eidelman, S.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Haba, J.; Hara, K.; Hayasaka, K.; Hazumi, M.; Higuchi, T.; Horii, Y.; Hoshi, Y.; Hou, W.-S.; Hsiung, Y.B.; Hyun, H.J.; Iijima, T.; Inami, K.; Itoh, R.; Iwabuchi, M.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Julius, T.; Kang, J.H.; Kapusta, P.; Katayama, N.; Kawai, H.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kim, H.J.; Kim, J.H.; Kim, M.J.; Ko, B.R.; Kody?, P.; Korpar, S.; Kri?an, P.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumita, T.; Kyeong, S.-H.; Lee, M.J.; Lee, S.-H.; Liu, Y.; Louvot, R.; Matyja, A.; McOnie, S.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Miyazaki, Y.; Mohanty, G.B.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nakazawa, H.; Neubauer, S.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Nitoh, O.; Nozaki, T.; Ogawa, S.; Ohshima, T.; Olsen, S.L.; Ostrowicz, W.; Ozaki, H.; Park, C.W.; Park, H.; Park, H.K.; Pestotnik, R.; Petri?, M.; Piilonen, L.E.; Prim, M.; Sahoo, H.; Sakai, Y.; Schneider, O.; Schwanda, C.; Schwartz, A.J.; Senyo, K.; Sevior, M.E.; Shapkin, M.; Shen, C.P.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Smerkol, P.; Solovieva, E.; Stani?, S.; Stari?, M.; Sumiyoshi, T.; Teramoto, Y.; Trabelsi, K.; Uehara, S.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Ushiroda, Y.; Varner, G.; Varvell, K.E.; Vervink, K.; Wang, C.H.; Wang, P.; Wang, X.L.; Watanabe, Y.; Wedd, R.; Won, E.; Yamashita, Y.; Yusa, Y.; Zander, D.; Zhang, Z.P.; Zhilich, V.; Zhou, P.; Zivko, T.; YEE HSIUNG ; PAO-TI CHANG ; PISIN CHEN ; WEI-SHU HOU | Physical Review | 52 | 44 | |
2011 | Measurement of e + e - →Ds(*)+Ds(*)- cross sections near threshold using initial-state radiation | Pakhlova, G.; Adachi, I.; Aihara, H.; Arinstein, K.; Aushev, T.; Aziz, T.; Bakich, A.M.; Balagura, V.; Barberio, E.; Bay, A.; Belous, K.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bondar, A.; Bozek, A.; Bra?ko, M.; Browder, T.E.; Chen, A.; Chen, P.; Cheon, B.G.; Chistov, R.; Cho, I.-S.; Cho, K.; Choi, K.-S.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Dalseno, J.; Danilov, M.; Dole?al, Z.; Drutskoy, A.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Golob, B.; Ha, H.; Haba, J.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Horii, Y.; Hoshi, Y.; Hou, W.-S.; Hyun, H.J.; Iijima, T.; Inami, K.; Itoh, R.; Iwabuchi, M.; Iwasaki, Y.; Joshi, N.J.; Julius, T.; Kang, J.H.; Kapusta, P.; Kawai, H.; Kawasaki, T.; Kiesling, C.; Kim, H.J.; Kim, H.O.; Kim, M.J.; Kim, S.K.; Kim, Y.J.; Kinoshita, K.; Ko, B.R.; Korpar, S.; Kri?an, P.; Kumita, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Kyeong, S.-H.; Lange, J.S.; Lee, M.J.; Lee, S.-H.; Liu, C.; Liu, Y.; Liventsev, D.; Louvot, R.; Matyja, A.; McOnie, S.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Miyazaki, Y.; Mizuk, R.; Mohanty, G.B.; Mori, T.; Nagasaka, Y.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nakazawa, H.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Nitoh, O.; Nozaki, T.; Ogawa, S.; Ohshima, T.; Okuno, S.; Olsen, S.L.; Pakhlov, P.; Palka, H.; Park, C.W.; Park, H.; Park, H.K.; Pestotnik, R.; Petri?, M.; Piilonen, L.E.; Poluektov, A.; R?hrken, M.; Ryu, S.; Sahoo, H.; Sakai, K.; Sakai, Y.; Schneider, O.; Schwanda, C.; Senyo, K.; Sevior, M.E.; Shapkin, M.; Shebalin, V.; Shen, C.P.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Simon, F.; Smerkol, P.; Sohn, Y.-S.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stani?, S.; Stari?, M.; Sumiyoshi, T.; Teramoto, Y.; Tikhomirov, I.; Trabelsi, K.; Uehara, S.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Varner, G.; Varvell, K.E.; Vinokurova, A.; Vossen, A.; Wang, C.H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Watanabe, M.; Watanabe, Y.; Wedd, R.; Won, E.; Yamashita, Y.; Yuan, C.Z.; Zhang, Z.P.; Zhilich, V.; Zhou, P.; Zhulanov, V.; Zivko, T.; Zupanc, A.; MIN-ZU WANG ; PISIN CHEN ; WEI-SHU HOU | Physical Review D - Particles, Fields, Gravitation and Cosmology | 31 | 27 | |
2010 | Measurement of eta eta production in two-photon collisions | Uehara, S.; Watanabe, Y.; Nakazawa, H.; Adachi, I.; Aihara, H.; Arinstein, K.; Aushev, T.; Bakich, A.M.; Balagura, V.; Barberio, E.; Bay, A.; Belous, K.; Bischofberger, M.; Bondar, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bra?ko, M.; Browder, T.E.; Chang, P.; Chao, Y.; Chen, A.; Chen, P.; Cheon, B.G.; Cho, I.-S.; Choi, Y.; Dalseno, J.; Dole?al, Z.; Drutskoy, A.; Eidelman, S.; Goldenzweig, P.; Ha, H.; Haba, J.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Horii, Y.; Hoshi, Y.; Hou, W.-S.; Hsiung, Y.B.; Hyun, H.J.; Itoh, R.; Iwabuchi, M.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Julius, T.; Kah, D.H.; Kang, J.H.; Kapusta, P.; Kawai, H.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kim, H.J.; Kim, H.O.; Kim, J.H.; Kim, M.J.; Ko, B.R.; Kody, P.; Korpar, S.; Kri?an, P.; Krokovny, P.; Kwon, Y.-J.; Kyeong, S.-H.; Lange, J.S.; Lee, M.J.; Lee, S.-H.; Liu, Y.; Liventsev, D.; Louvot, R.; Matyja, A.; McOnie, S.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Miyazaki, Y.; Mizuk, R.; Mohanty, G.B.; Mori, T.; Nakano, E.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Nitoh, O.; Ogawa, S.; Ohshima, T.; Okuno, S.; Olsen, S.L.; Park, C.W.; Park, H.; Park, H.K.; Pestotnik, R.; Petri?, M.; Piilonen, L.E.; Poluektov, A.; Ryu, S.; Sahoo, H.; Sakai, Y.; Schneider, O.; Schwanda, C.; Senyo, K.; Sevior, M.E.; Shapkin, M.; Shen, C.P.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Simon, F.; Smerkol, P.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stani?, S.; Stari?, M.; Sumiyoshi, T.; Teramoto, Y.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Varner, G.; Vervink, K.; Wang, C.H.; Wang, P.; Wang, X.L.; Wedd, R.; Won, E.; Yamashita, Y.; Zhang, Z.P.; Zhilich, V.; Zhou, P.; Zivko, T.; YEE HSIUNG ; PAO-TI CHANG ; PISIN CHEN ; WEI-SHU HOU | Physical Review | 22 | 20 | |