公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
---|---|---|---|---|---|---|
2020 | Structural evolution of in situ boron-doped SiGe ultrathin film analyzed by multi-optical methods | Chang, F.-M.; Wu, Z.-Z.; Chen, Y.; Yen, T.-Y.; Huang, Y.-H.; Chong, L.-Y.; Jangjian, S.-K.; Lee, F.-Y.; Chang, Y.-M. ; Lo, K.-Y. | Nanotechnology | 1 | 1 |