公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
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2008 | Characterization of Si nanorods by spectroscopic ellipsometry with efficient theoretical modeling | Hsu, S.-H.; Liu, E.-S.; Chang, Y.-C.; Hilfiker, J.N.; Kim, Y.D.; Kim, T.J.; Lin, C.-J.; GONG-RU LIN ; Lin, Chun-Jung | Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science |