公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
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1992 | Test Reduction in Scan-Designed Circuits | Lai, W.; Kung, C.; 林呈祥; Lin, Chen-Shang | Proceedings of International Electronic Devices and Materials Symposium | |||
1993 | Test Time Reduction in Scan Designed Circuits | Lai, W.; Kung, C.; 林呈祥; Lin, Chen-Shang | EDAC-EUROASIC |