公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
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2005 | Determination of thickness and lattice distortion for the individual layer of strained AlGaN/GaN superlattice by high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy | Shiojiri, M.; Ceh, M.; Sturm, S.; Chuo, C.C.; Hsu, J. T.; Yang, J. R.; Sajio, H. | Applied |