公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
---|---|---|---|---|---|---|
1998 | Electronic and microstructure characterization of strontium-bismuth tantalate (SBT) thin films | Hartmann A.J.; Lamb R.N.; Scott J.F.; Johnston P.N.; El Bouanani M.; Chen C.W.; Robertson J.; CHUN-WEI CHEN | Journal of the Korean Physical Society | |||
1999 | Surface characterisation of strontium-bismuth tantalate (SBT) thin films | Hartmann A.J.; Lamb R.N.; Scott J.F.; Johnston P.N.; El Bouanani M.; Chen C.W.; Robertson J.; CHUN-WEI CHEN | Integrated Ferroelectrics |