Project title
電能處理系統之精緻化與加速壽命測試研究-高功率開關元件特性分析與加速壽命測試研究
Internal ID
98-2221-E-002-201-
Principal Investigator
Start Date
August 1, 2009
End Date
November 30, 2010
Partner Organizations
電能處理系統之精緻化與加速壽命測試研究-高功率開關元件特性分析與加速壽命測試研究
Keywords
高功率金氧半電晶體
可靠度
漏電流
崩潰電場
power switching devices
reliability
leakage current