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.National Taiwan University / 國立臺灣大學
Project / 研究計畫
尖端掃描探針顯微技術檢測前瞻半導體材料元件關鍵特性-原子級掃描探針顯微技術檢測半導體關鍵材料元件表面介面能譜分析(2/3)
尖端掃描探針顯微技術檢測前瞻半導體材料元件關鍵特性-原子級掃描探針顯微技術檢測半導體關鍵材料元件表面介面能譜分析(2/3)
Details
Primary Data
Internal ID
113-2119-M-002-014-MBK
Principal Investigator
邱雅萍
Start Date
May 1, 2024
End Date
April 30, 2025
Organizations
應用物理學研究所
Partner Organizations
國家科學及技術委員會