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.National Taiwan University / 國立臺灣大學
Project / 研究計畫
利用掃瞄探針顯微術及相關技術研究超薄分子薄膜的結構性質關連(1/2)
利用掃瞄探針顯微術及相關技術研究超薄分子薄膜的結構性質關連(1/2)
Details
Primary Data
Project title
利用掃瞄探針顯微術及相關技術研究超薄分子薄膜的結構性質關連(1/2)
Internal ID
93-2112-M-002-036-
Principal Investigator
WOEI-WU PAI
Start Date
August 1, 2004
End Date
July 31, 2005
Partner Organizations
National Science and Technology Council