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.National Taiwan University / 國立臺灣大學
Project / 研究計畫
尖端掃描探針顯微技術檢測前瞻半導體材料元件關鍵特性-原子級掃描探針顯微技術檢測半導體關鍵材料元件表面介面能譜分析(1/3)
尖端掃描探針顯微技術檢測前瞻半導體材料元件關鍵特性-原子級掃描探針顯微技術檢測半導體關鍵材料元件表面介面能譜分析(1/3)
Details
Primary Data
Project title
尖端掃描探針顯微技術檢測前瞻半導體材料元件關鍵特性-原子級掃描探針顯微技術檢測半導體關鍵材料元件表面介面能譜分析(1/3)
Internal ID
112-2119-M-002-021-MBK
Principal Investigator
YA-PING CHIU
Start Date
May 1, 2023
End Date
April 30, 2024
Organizations
Applied Physics
Partner Organizations
National Science and Technology Council