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.National Taiwan University / 國立臺灣大學
Project / 研究計畫
掃描穿透式電子顯微鏡結合電子損失能譜: 原子級解析度之介面晶體與電子結構分析
掃描穿透式電子顯微鏡結合電子損失能譜: 原子級解析度之介面晶體與電子結構分析
Details
Primary Data
Project title
掃描穿透式電子顯微鏡結合電子損失能譜: 原子級解析度之介面晶體與電子結構分析
Internal ID
98R0066-18
Principal Investigator
MING-WEN CHU
Start Date
August 1, 2009
End Date
July 31, 2010
Partner Organizations
Ministry of Education