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College of Engineering / 工學院
Industrial Engineering / 工業工程學研究所
多重變異來源特性之半導體製程取樣與統計製程管制策略
Details
多重變異來源特性之半導體製程取樣與統計製程管制策略
Resource
中國統計學報,38(3),269-280.
Journal
中國統計學報
Journal Volume
38
Journal Issue
3
Pages
269-280
Date Issued
2000-05
Date
2000-05
Author(s)
陳正剛
郭瑞祥
葉珮甄
URI
http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/191794
Type
journal article