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高功率雷射去除薄金屬構件中缺陷之研究(1/3)
Date Issued
2003
Date
2003
Author(s)
陳鈞
DOI
912216E002023
Abstract
本實驗係針對薄金屬構件中的缺陷,進行雷射銲接技術去除之評估研究。為了探討雷射的純化效應及其可行性,利用不當的銲(補)接製程參數來製作含人工缺陷試片。缺陷的去除係採用一次或多次keyhole 雷射銲接方式。此外,為模擬裂縫中氧化膜及填料氧化物之去除,可先將試片對接面的試片銹蝕(氧化)。
實驗結果經由X 光檢測得知,含氣孔之銲件試片,可利用雷射銲接製程去除。表面銹蝕試片由於氧化膜型態以及間隙不均勻的影響,銲件有underfill 的現象發生。試片之underfill,係由於在去除過程中沒有添加填料,目前正嘗試去除缺陷與填補underfill 之同步製程。
實驗結果經由X 光檢測得知,含氣孔之銲件試片,可利用雷射銲接製程去除。表面銹蝕試片由於氧化膜型態以及間隙不均勻的影響,銲件有underfill 的現象發生。試片之underfill,係由於在去除過程中沒有添加填料,目前正嘗試去除缺陷與填補underfill 之同步製程。
Subjects
純化效應
X 光檢測
雷射銲接
雷射銲補
Publisher
臺北市:國立臺灣大學材料科學與工程學研究所
Coverage
計畫年度:91;起迄日期:2002-08-01/2003-07-31
Type
report
File(s)
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Name
912216E002023.pdf
Size
737.5 KB
Format
Adobe PDF
Checksum
(MD5):1937ed4a982232da925b6c484ee433e6