應用全域光學量測含孔洞及非均厚平板的振動特性
Date Issued
2002
Date
2002
Author(s)
DOI
902212E002230
Abstract
本計畫利用具備全域量測特性
的振幅變動電子斑點干涉術
( Amplitude-fluctuation electronic
speckle pattern interferometry ,
AF-ESPI) 探討含圓孔缺陷及非均厚
平板的振動特性,藉由AF-ESPI 這項
實驗技術可同時獲得試片平板共振
頻率及共振模態等振動訊息,由所得
之實驗資料可瞭解平板缺陷對其振
動特性所造成之影響,實驗所得之資
料最後則與有限元素計算所得之數
值解進行相互比較及驗證。
Publisher
臺北市:國立臺灣大學機械工程學系暨研究所
Type
report
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Name
902212E002230.pdf
Size
2.77 MB
Format
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(MD5):b7e7e9ca2ef4cad46a57381bc69fbc20
