Silicon Wafer Inspection Using Image Process Technology and Neural Network

應用影像處理技術與類神經網路於半導體之晶圓檢測

Journal

中國工業工程學會95年度年會暨學術研討會論文集

Author(s)

謝炎達

王朝興

張文亮  

URI

https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/412404

Type

conference paper