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Sn3Ag0.5Cu-xBi銲錫球格陣列構裝接點微結構與機械性質研究

Microstructure and mechanical properties of lead free Sn3Ag0.5Cu-xBi in BGA package

Date Issued
2006
Date
2006
Author(s)
Wu, Hui-Min
DOI
zh-TW
URI
http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/55340
Abstract
本研究以添加不同含量的Bi元素在Sn3Ag0.5Cu銲錫內作為研究對象,除了針對銲錫本身微結構觀察之外,並與Au/Ni(P)/Cu接墊作接點界面反應與機械性質研究。
實驗結果顯示,當Bi的含量添加到3wt%時,銲錫內部可觀察到微量的純Bi析出,Bi含量達到6wt%時,觀察到Sn基地內的Bi析出量越多。而在熔點方面,Bi可以降低熔點溫度,且隨著Bi含量的添加,硬度與拉伸強度上升,但伸長率下降。
在球格陣列構裝方面,Sn3Ag0.5Cu在時效150℃時,銲錫內的AuSn4介金屬轉變成(Au,Ni)Sn4,界面介金屬成分也轉變為 (Cu,Ni,Au)6Sn5。而在添加Bi的Sn3Ag0.5Cu系列,在界面處有發現(Cu,Ni,Au)3Sn4介金屬生成。在總體界面介金屬厚度而言,與電鍍 Ni研究100相較,因在無電鍍Ni層之間有富P之Ni層與Ni3(Sn,P)薄層,為IMC/ Ni3(Sn,P)/P-rich Ni/Ni(P),而此Ni3(Sn,P)薄層可視為Ni的擴散阻礙層,故厚度較為薄。在剪力強度方面,Sn3Ag0.5Cu有時效軟化問題,添加微量Bi後剪力強度增加且時效後呈現穩定剪力強度值,但當添加達到3wt%以後,破斷面會由延性破壞轉為脆性破壞。
Subjects
Sn3Ag0.5Cu-xBi 球格陣列構裝
Sn3Ag0.5Cu-xBi BGA
Type
thesis

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