https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/120718
標題: | 薄膜電晶體可靠度之研究 Investigation on Reliability of Thin-Film Transistors |
作者: | 卓佳錠 Cho, Chia-Ting |
關鍵字: | a���q����;�Ǥ$l�p�g�����k;���U��V��;�V���o��٭��C;��;����;thin film transistors;excimer laser crystalline method;lightly-doped-drain;drain-induced barrier lowering;impact ionization | 公開日期: | 2007 | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/188961 |
顯示於: | 光電工程學研究所 |
檔案 | 描述 | 大小 | 格式 | |
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ntu-96-R95941009-1.pdf | 23.32 kB | Adobe PDF | 檢視/開啟 |
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