https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/122032
標題: | 具有內建自我測試功能之5GHz 超低功率無線通訊系統之研製--
子計畫三:5GHz 無線系統晶片的射頻自我測試技術 RF Built-in-self-test techniques for 5GHz wireless SOC (I) |
作者: | 黃天偉 | 關鍵字: | 射頻內建式自我測試;射頻積體電路;射頻系統晶片;系統晶片測試;RF Built-in Self-test;RF IC;RF SOC;SOC Test | 公開日期: | 31-十月-2004 | 出版社: | 臺北市:國立臺灣大學電信工程學研究所 | 摘要: | 自我測試電路在數位電路中已十分常 見,然而在射頻電路的領域卻是還未成熟 的技術。為了研究自我測試電路應用在射 頻電路的可行性,我們在這三年計畫之第 一年的研究可分為三方面:1.射頻放大器 自我測試方法的分析。2.關於未來系統測 試中需要的系統封裝關鍵元件之研製,並 有多篇論文發表於國際會議之中3.發展射 頻週邊掃瞄電路作為射頻自我測試的功能 控制,並完成週邊掃瞄電路與射頻電路的 整合工作,並提出專利申請。 While it is so common in digital circuits, built-in-self-test (BIST) is not mature in RF circuits’ domain. In order to find the possibility to implement BIST in RF circuits, our first year research among the three project includes:1. The analysis of RF amplifier BIST methods. 2. The system-in-package components are developed for the future system self test, which have been published in several international conference papers. 3. The RF boundary scan cell (BSC) to control RF-BIST function is developed and integrated with RF circuits, which has been submitted to U.S. patent. |
URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/20304 | 其他識別: | 922220E002005 | Rights: | 國立臺灣大學電信工程學研究所 |
顯示於: | 電信工程學研究所 |
檔案 | 描述 | 大小 | 格式 | |
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922220E002005.pdf | 401.83 kB | Adobe PDF | 檢視/開啟 |
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