https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/147536
標題: | Locating logic design errors via test generation and don't-care propagation | 作者: | Kuo, Sy-Yen | 公開日期: | 九月-1992 | 起(迄)頁: | - | 來源出版物: | Design Automation Conference, 1992. EURO-VHDL '92, EURO-DAC '92. European | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/2007041910032329 | 其他識別: | N/A | DOI: | 10.1109/EURDAC.1992.246202 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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