https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/150034
標題: | The Impact of Parallel Architectures Granularity on Yield | 作者: | Fuchs, W. K. Chang, M. F. 郭斯彥 Mazumder, P. Stunkel, C. Kuo, Sy-Yen |
公開日期: | 1962 | 出版社: | London: Adam Hilger | 卷: | VLSI | 起(迄)頁: | - | 來源出版物: | Yield Modeling and Defect Tolerance in | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/121648 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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