https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/153324
標題: | Test set compaction for combinational circuits | 作者: | Chang, Jau-Shien Lin, Chen-Shang |
公開日期: | 十一月-1992 | 起(迄)頁: | Proceeding-s | 來源出版物: | Test Symposium, 1992. (ATS '92) | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/2007041910032321 | 其他識別: | N/A | DOI: | 10.1109/ATS.1992.224429 |
顯示於: | 電機工程學系 |
檔案 | 描述 | 大小 | 格式 | |
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