https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/155360
標題: | A Design for Testability Technique for Low Power Delay Fault Testing | 作者: | Li, James Chien-Mo | 公開日期: | 2004 | 期: | 4 | 起(迄)頁: | 621-628 | 來源出版物: | IEICE TRANSACTIONS on Electronics E87-C | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/144065 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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