https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/155475
標題: | A comparative study of high resolution transmission electron microscopy, atomic force microscopy and infrared spectroscopy for GaN thin films grown on sapphire by metalorganic chemical vapor deposition | 作者: | Feng, Zhe Chuan Li, Kun Hou, Yun Tian Zhao, Jie Lu, W. Collins, W.E. |
公開日期: | 2006 | 卷: | 200 | 期: | 10 | 起(迄)頁: | 3224-3229 | 來源出版物: | Surface and Coatings Technology | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/144201 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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