https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/296941
標題: | Performance prediction and function recovery of CMOS circuits damaged by Co-60 irradiation | 作者: | Chang-Liao, K.-S. Hwu, J.-G. JENN-GWO HWU |
公開日期: | 1992 | 卷: | 139 | 期: | 3 | 起(迄)頁: | 319-324 | 來源出版物: | IEE Proceedings, Part G: Circuits, Devices and Systems | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0026881848&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/296941 |
顯示於: | 電機工程學系 |
在 IR 系統中的文件,除了特別指名其著作權條款之外,均受到著作權保護,並且保留所有的權利。