https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/301812
標題: | Thickness-dependent stress effect in p-type metal-oxide-semiconductor structure investigated by substrate injection current | 作者: | JENN-GWO HWU | 公開日期: | 2003 | 卷: | 82 | 期: | 22 | 起(迄)頁: | 3916-3918 | 來源出版物: | Applied Physics Letters | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0038307299&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/301812 |
DOI: | 10.1063/1.1581004 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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