https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/309292
標題: | RLC effects on worst-case switching pattern for on-chip buses | 作者: | Tu, S.-W. Jou, J.-Y. Chang, Y.-W. YAO-WEN CHANG |
公開日期: | 2004 | 卷: | 2 | 來源出版物: | IEEE International Symposium on Circuits and Systems | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-4344685471&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/309292 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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