https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/310511
標題: | A Compact Threshold Voltage Model for Gate Misalignment Effect of DG FD SOI NMOS Devices Considering Fringing Electric Field Effects | 作者: | E. C. Sun J. B. Kuo JAMES-B KUO |
公開日期: | 四月-2004 | 卷: | 51 | 期: | 4 | 起(迄)頁: | 587-596 | 來源出版物: | IEEE Transactions on Electron Devices | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/310511 | DOI: | 10.1109/TED.2004.825108 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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