https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/318032
標題: | Segmented Weighted Random BIST (SWR-BIST) Technique for Low Power Testing | 作者: | CHIEN-MO LI Lee, C-Y CHIEN-MO LI |
公開日期: | 一月-2005 | 來源出版物: | Asia Solid-State Circuit Conference (ASSCC) | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/318032 | DOI: | 10.1109/ASSCC.2005.251733 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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