https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/318036
標題: | Column Parity and Row Select (CPRS): BIST Diagnosis for Errors in Multiple Scan Chains | 作者: | CHIEN-MO LI H.M. Lin CHIEN-MO LI |
公開日期: | 十月-2005 | 來源出版物: | International Test Conference | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/318036 | DOI: | 10.1109/TEST.2005.1584078 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
檔案 | 描述 | 大小 | 格式 | |
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