dc.relation.reference | Chapter 1
1. L. Esaki and R. Tsu, IBM Research Note RC-2418 (1969).
2. J. C. Campbell, in Germanium Silicon: Physics and Materials: Optoelectronics in Silicon and Germanium Silicon, edited by R. Hull and J. C. Bean (Academic, San Diego, 1999) p. 347.
3. G. Franzo, F. Priolo, S. Coffa, A. Polman, and A. Carnera, Appl. Phys. Lett. 64, 2235 (1994).
4. J. Stimmer, A. Reittinger, J. F. Nutzel, G. Abstreiter, H. Holzbrecher, and C. Buchal, Appl. Phys. Lett. 68, 3290 (1996).
5. F. Iacona, D. Pacifici, A. Irrera, M. Miritello, G. Franzo, F. Priolo, D. Sanfilippo, G. Di Stefano, and P. G. Fallica, Appl. Phys. Lett. 81, 3242 (2002).
6. B. Voigtländer, Surf. Sci. Rep. 43, 127 (2001).
7. O. G. Schmidt, C. Lange, and K. Eberl, Appl. Phys. Lett. 75, 1905 (1999).
8. T. Splett, K. Zinke, E. Petermann, H. Kasper, H. -J. Kibbel, and X. H. Herzog, IEEE Photonics Technol. Lett. 6, 59 (1994).
9. G. Franzo, F. Priolo, S. Coffa, A. Polman, and A. Carnera, Appl. Phys. Lett. 64, 2235 (1994).
10. R. Apetz, L. Vescan, A. Hartmann, C. Dieker, and H. Luth, Appl. Phys. Lett. 66, 445 (1995).
11. T. Brunhes, P. Boucaud, S. Sauvage, F. Aniel, J. -M. Lourtioz, C. Hernandez, Y. Campidelli, O. Kermarrec, D. Bensahel, G. Faini, and I. Sagnes, Appl. Phys. Lett. 77, 1822 (2000).
Chapter 2
1. R. A. Stradling and P. C. Klipstein, in Growth and Characterisation of Semiconductors (Hilger, 1990).
2. S. Perkowitz, in Optical Characterization of Semiconductors: Infrard, Raman, and Photoluminescence Spectroscopy (Academic Press, 1993).
3. H. Saito, K. Nishi, S. Sugou, and Y. Sugimoto, Appl. Phys. Lett 71, 590 (1997).
4. Y. Nabetani, T. Ishikawa, S. Noda, and A. Sasaki, J. Appl. Phys. 76, 347 (1994).
5. M. Henini, S. Sanguinetti, S. C. Fortina, E. Grilli, M. Guzzi, G. Panzarini L. C. Andreani, M. D. Upward, P. Moriarty, P. H. Beton, and L. Eaves, Phys. Rev. B 57, 6815 (1998).
6. V. Zwiller, L. Jarlskog, M. -E. Pistol, C. Pryor, P. Castrillo, W. Seifert, and L. Samuelson, Phys. Rev. B 63, 233301 (2001).
7. M. Sugisaki, H. -W. Ren, S. V. Nair, K. Nishi, S. Sugou, T. Okuno, and Y. Matsumoto, Phys. Rev. B 59, R5300 (1999).
8. U. Håkanson, V. Zwiller, M. K. -J. Johansson, T. Sass, and L. Samuelson, Appl. Phys. Lett. 82, 627 (2003).
9. A. V. Platonov, V. P. Kochereshko, E. L. Ivchenko, G. V. Mikhailov, D. R. Yakovlev, M. Keim, W. Osau, A. Waag, and G. Landwehr, Phys. Rev. Lett. 83, 3546 (1999).
10. M. Schmidt, M. Grün, S. Petillon, E. Kurtz, and C. Klingshirn, Appl. Phys. Lett. 77, 85 (2000).
11. W. S. Su, M. H. Ya, Y. S. Chiu, and Y. F. Chen, Phys. Rev. B 66, 113305 (2002).
12. Y. S. Chiu, M. H. Ya, W. S. Su, T. T. Chen, Y. F. Chen, and H. H. Lin, Appl. Phys. Lett. 81, 4943 (2002).
13. W. Yang, H. Lee, T. J. Johnson, P. C. Sercel and A. G. Norman, Phys. Rev. B 61, 2784 (2000).
14. S. Cortez, O. Krebs, P. Voisin and J. M. Gérard, Phys. Rev. B 63, 233306 (2001).
15. P. Y. Yu and M. Cardona, in Fundamentals of Semiconductors (Springer, 2001).
16. C. V. Raman, Nature 121, 619 (1928).
Chapter 3
1. J. C. Campbell, in Germanium Silicon: Physics and Materials: Optoelectronics in Silicon and Germanium Silicon, edited by R. Hull and J. C. Bean (Academic, San Diego, 1999), p. 347.
2. T. Splett, K. Zinke, E. Petermann, H. Kasper, H. -J. Kibbel, and X. H. Herzog, IEEE Photonics Technol. Lett. 6, 59 (1994).
3. G. Franzo, F. Priolo, S. Coffa, A. Polman, and A. Carnera, Appl. Phys. Lett. 64, 2235 (1994).
4. R. Apetz, L. Vescan, A. Hartmann, C. Dieker, and H. Luth, Appl. Phys. Lett. 66, 445 (1995).
5. T. Brunhes, P. Boucaud, S. Sauvage, F. Aniel, J. -M. Lourtioz, C. Hernandez, Y. Campidelli, O. Kermarrec, D. Bensahel, G. Faini, and I. Sagnes, Appl. Phys. Lett. 77, 1822 (2000).
6. O. G. Schmidt and K. Eberl, Phys. Rev. B 61, 13721 (2000).
7. O. G. Schmidt, K. Eberl, O. Kienzle, F. Ernst, S. Christiansen, and H. P. Strunk, Mater. Sci. Eng. B 74, 248 (2000).
8. O. G. Schmidt, O. Kienzle, Y. Hao, K. Eberl, and F. Ernst, Appl. Phys. Lett. 74, 1272 (1999).
9. V. Le Thanh, V. Yam, P. Boucaud, F. Fortuna, C. Ulysse, D. Bouchier, L. Vervoort, and J. -M. Lourtioz, Phys. Rev. B 60, 5851 (1999).
10. S. Fukatsu, H. Sunamura, Y. Shiraki, and S. Komiyama, Thin Solid Films 321, 65 (1998).
11. P. J. Dean, J. R. Haynes, and W. F. Flood, Phys. Rev. 161, 711 (1967).
12. W. -H. Chang, W. -Y. Chen, A. -T. Chou, T. -M. Hsu, P. -S. Chen, Z. Pei, and L. -S. Lai, J. Appl. Phys. 93, 4999 (2003).
13. S. Fukatsu, Y. Mera, M. Inoue, K. Maeda, H. Akiyama, and H. Sakaki, Appl. Phys. Lett. 68, 1889 (1996).
14. V. Higgs, P. Kightley, P. J. Goodhew, and P. D. Augustus, Appl. Phys. Lett. 59, 829 (1991).
15. H. Saito, K. Nishi, S. Sugou, and Y. Sugimoto, Appl. Phys. Lett 71, 590 (1997).
16. Y. Nabetani, T. Ishikawa, S. Noda, and A. Sasaki, J. Appl. Phys. 76, 347 (1994).
17. M. Henini, S. Sanguinetti, S. C. Fortina, E. Grilli, M. Guzzi, G. Panzarini L. C. Andreani, M. D. Upward, P. Moriarty, P. H. Beton, and L. Eaves, Phys. Rev. B 57, 6815 (1998).
18. V. Zwiller, L. Jarlskog, M. -E. Pistol, C. Pryor, P. Castrillo, W. Seifert, and L. Samuelson, Phys. Rev. B 63, 233301 (2001).
19. W. Yang, H. Lee, T. J. Johnson, P. C. Sercel and A. G. Norman, Phys. Rev. B 61, 2784 (2000).
20. S. Cortez, O. Krebs, P. Voisin and J. M. Gérard, Phys. Rev. B 63, 233306 (2001).
21. C. H. Chen, W. H. Chen, Y. F. Chen, and T. Y. Lin, Appl. Phys. Lett. 83, 1770 (2003).
22. A. V. Platonov, V. P. Kochereshko, E. L. Ivchenko, G. V. Mikhailov, D. R. Yakovlev, M. Keim, W. Osau, A. Waag, and G. Landwehr, Phys. Rev. Lett. 83, 3546 (1999).
23. M. Schmidt, M. Grün, S. Petillon, E. Kurtz, and C. Klingshirn, Appl. Phys. Lett. 77, 85 (2000).
24. W. S. Su, M. H. Ya, Y. S. Chiu, and Y. F. Chen, Phys. Rev. B 66, 113305 (2002).
25. Y. S. Chiu, M. H. Ya, W. S. Su, T. T. Chen, Y. F. Chen, and H. H. Lin, Appl. Phys. Lett. 81, 4943 (2002).
26. G. Jin, J. L. Liu, and K. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 83, 2847 (2003).
27. A. I. Yakimov, N. P. Stepina, A. V. Dvurechenskii, A. I. Nikiforov, and A. V. Nenashev, Phys. Rev. B 63, 045312 (2001).
28. J. Wan, G. L. Jin, Z. M. Jiang, Y. H. Luo, J. L. Liu, and Kang L. Wang, Appl. Phys. Lett. 78, 1763 (2001).
29. Z. Zhong, A. Halilovic, T. Fromherz, F. Schäffler, and G. Bauer, Appl. Phys. Lett. 82, 4779 (2003).
30. J. Weber and M. I. Alonso, Phys. Rev. B 40, 5683 (1989).
31. M. V. Klein, in Light Scattering in Solid I, edited by M. Cardona (Springer, Berlin, Heidelberg, New York, 1983), p. 178.
32. C. Lang, D. J. H. Cockayne and D. Nguyen-Manh, Phys. Rev. B 72, 155328 (2005).
33. G. Katsaros, G. Costantini, M. Stoffel, R. Esteban, A. M. Bittner, A. Rastelli, U. Denker, O. G. Schmidt, and K. Kern, Phys. Rev. B 72, 195320 (2005).
Chapter 4
1. O. G. Schmidt and K. Eberl, Phys. Rev. B 61, 13721 (2000).
2. O. G. Schmidt, K. Eberl, O. Kienzle, F. Ernst, S. Christiansen, and H. P. Strunk, Mater. Sci. Eng. B 74, 248 (2000).
3. O. G. Schmidt, O. Kienzle, Y. Hao, K. Eberl, and F. Ernst, Appl. Phys. Lett. 74, 1272 (1999).
4. V. Le Thanh, V. Yam, P. Boucaud, F. Fortuna, C. Ulysse, D. Bouchier, L. Vervoort, and J. -M. Lourtioz, Phys. Rev. B 60, 5851 (1999).
5. S. Fukatsu, H. Sunamura, Y. Shiraki, and S. Komiyama, Thin Solid Films 321, 65 (1998).
6. P. J. Dean, J. R. Haynes, and W. F. Flood, Phys. Rev. 161, 711 (1967).
7. W. -H. Chang, W. -Y. Chen, A. -T. Chou, T. -M. Hsu, P. -S. Chen, Z. Pei, and L. -S. Lai, J. Appl. Phys. 93, 4999 (2003).
8. S. Fukatsu, Y. Mera, M. Inoue, K. Maeda, H. Akiyama, and H. Sakaki, Appl. Phys. Lett. 68, 1889 (1996).
9. V. Higgs, P. Kightley, P. J. Goodhew, and P. D. Augustus, Appl. Phys. Lett. 59, 829 (1991).
10. O. G. Schmidt, and K. Eberl, Phys. Rev. B 61, 13721 (2000).
11. Z. Y. Xu, Z. D. Lu, X. P. Yang, Z. L. Yuan, B. Z. Zheng, J. Z. Xu, W. K. Ge, Y. Wang, J. Wang, and L. L. Chang, Phys. Rev. B 54, 11548 (1996).
12. J. Wan, G. L. Jin, Z. M. Jiang, Y. H. Luo, J. L. Liu, and K. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 78, 1763 (2001).
13. M. Larsson, A. Elfving, P. O. Holtz, G. V. Hansson, and W. -X. Ni, Appl. Phys. Lett. 82, 4785 (2003).
14. A. A. Maksimov, S. V. Zaitsev, I. I. Tartakovskii, V. D. Kulakovskii, D. R. Yakovlev, W. Ossau, M. Keim, G. Reuscher, A. Waag, and G. Landwehr, Appl. Phys. Lett. 75, 1231 (1999).
15. A. V. Baranov, A. V. Fedorov, T. S. Perova, R. A. Moore, V. Yam, D. Bouchier, V. Le Thanh, and K. Berwick, Phys. Rev. B 73, 075322 (2006).
16. W. -H. Chang, W. -Y. Chen, A. -T. Chou, T. -M. Hsu, P. -S. Chen, Z. Pei, and L. -S. Lai, J. Appl. Phys. 93, 4999 (2003). | en |