https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/329956
標題: | Clockwise C-V hysteresis phenomena of metal-tantalum-oxide-silicon-oxide- silicon ( p) capacitors due to leakage current through tantalum oxide | 作者: | JENN-GWO HWU | 公開日期: | 1987 | 卷: | 62 | 期: | 10 | 起(迄)頁: | 4277-4283 | 來源出版物: | Journal of Applied Physics | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0040239348&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/329956 |
DOI: | 10.1063/1.339102 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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