https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/339010
標題: | Characterizing the thickness dependence of epitaxial GaN grown over GaN nanocolumns using X-ray diffraction | 作者: | Shiao, W.-Y. Tang, T.-Y. Chen, Y.-S. Averett, K.L. Albrecht, J.D. Yang, C.C. CHIH-CHUNG YANG |
公開日期: | 2008 | 卷: | 310 | 期: | 13 | 起(迄)頁: | 3159-3162 | 來源出版物: | Journal of Crystal Growth | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-44549085826&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/339010 |
DOI: | 10.1016/j.jcrysgro.2008.04.006 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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