https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/341020
標題: | Sensitivity-based multiple-Vt cell swapping for leakage power reduction | 作者: | Lee, W.-P. Liu, H.-Y. Ho, K.-H. Chang, Y.-W. YAO-WEN CHANG |
公開日期: | 2008 | 起(迄)頁: | 168-171 | 來源出版物: | 2008 International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test, VLSI-DAT | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-50649119502&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/341020 |
DOI: | 10.1109/VDAT.2008.4542439 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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