https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/341142
標題: | Stress-induced hump effects of p-channel polycrystalline silicon thin-film transistors | 作者: | CHEE-WEE LIU Huang, C.-F. Peng, C.-Y. Yang, Y.-J. Sun, H.-C. Chang, H.-C. Kuo, P.-S. Chang, H.-L. Liu, C.-Z. CHEE-WEE LIU |
公開日期: | 2008 | 卷: | 29 | 期: | 12 | 起(迄)頁: | 1332-1335 | 來源出版物: | IEEE Electron Device Letters | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-57049096959&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/341142 |
DOI: | 10.1109/LED.2008.2007306 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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