https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/341153
標題: | Investigation of reliability characteristics in NMOS and PMOS FinFETs | 作者: | CHEE-WEE LIU Liao, W.-S. Liaw, Y.-G. Tang, M.-C. Chakraborty, S. CHEE-WEE LIU |
公開日期: | 2008 | 卷: | 29 | 期: | 7 | 起(迄)頁: | 788-790 | 來源出版物: | IEEE Electron Device Letters | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-47249154866&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/341153 |
DOI: | 10.1109/LED.2008.2000723 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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