https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/341161
標題: | A new NBTI characterization method on polycrystalline silicon thin-film transistors | 作者: | Sun, H.-C. Huang, C.-F. Chen, Y.-T. Liu, C.W. Hsu, Y.-C. Shih, C.-C. Chen, J.-S. CHEE-WEE LIU |
公開日期: | 2008 | 卷: | 2 | 起(迄)頁: | 659-662 | 來源出版物: | IDW '08 - 15th International Display Workshops | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-77954100055&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/341161 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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