https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/343009
標題: | Diagnosis of Logic-chain Bridging Faults | 作者: | Wei-Chih Liu Wei-Lin Tsai Hsiu-Ting Lin James Chien-Mo Li CHIEN-MO LI |
公開日期: | 一月-2008 | 來源出版物: | IEEE Int’l Workshop on RTL and High Level Testing | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/343009 | DOI: | 10.1109/TEST.2008.4700695 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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