https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/350191
標題: | Correlation of carrier lifetimes and arsenic-antisite defects in LT-GaAs grown at different substrate temperatures | 作者: | Lin, Gong-Ru Liu, Tze-An Pan, Ci-Ling GONG-RU LIN |
公開日期: | 1999 | 卷: | 3624 | 起(迄)頁: | 50-56 | 來源出版物: | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0032596931&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/350191 |
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