https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/357983
標題: | Reliability screening of a-Si TFT circuits: Very-low voltage and I <inf>DDQ</inf> Testing | 作者: | Shen, S.-T. Liu, C. Ma, E.-H. Cheng, I.-C. Li, J.C.-M. I-CHUN CHENG CHIEN-MO LI |
公開日期: | 2010 | 卷: | 6 | 期: | 12 | 起(迄)頁: | 592-600 | 來源出版物: | IEEE/OSA Journal of Display Technology | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-78449309721&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/357983 |
DOI: | 10.1109/JDT.2010.2060469 |
顯示於: | 光電工程學研究所 |
在 IR 系統中的文件,除了特別指名其著作權條款之外,均受到著作權保護,並且保留所有的權利。