https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/363035
標題: | Electrical characteristics analysis at "oxide flat-band voltage" for Al-SiO 2-Si capacitor | 作者: | Lu, H.-W. Chen, T.-Y. Hwu, J.-G. JENN-GWO HWU |
公開日期: | 2011 | 卷: | 35 | 期: | 4 | 起(迄)頁: | 639-650 | 來源出版物: | ECS Transactions | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-79960853269&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/363035 |
DOI: | 10.1149/1.3572310 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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